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相关文献的查阅非常重要。
说白了，检索pdf卡片就是一个对指纹的过程。理论上虽然说“上没有任何两种不同的物相存在相同的衍射图谱”，不同物相的图谱总存在差异，但这种差异到底有多大呢？现在的卡片数已达14万种或更多，青海xrd小角度检测，而且会越来越多，xrd小角度检测服务，随着卡片的增多，相似的卡片也就越来越多，有些卡片仅在点阵常数上相差那么一点点，凭眼睛---看不出它们在图谱上的差异。在相似卡片的取舍上，就不是光凭图谱的差异就能鉴定出来的。在检索前先查查相关文献，是很有---的。
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用 xrd 图来精修出分子结构研究分子的性质， 收集 xrd 时应注意些什么?
强度要高，中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上；衍射峰的分辨要尽可能的好；扫描范围要大，大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关，比如样品的衍射能力，性质，还有仪器功率，测试方法，检测器的灵敏度等等。
做 xrd 时步长一般为 0.02 度，但是如果要做 rietveld 分析，出了强度要求 500 以上，步长有没有什么要求啊？
一个半峰宽内有 3-5个点就可以了，步长一般为 fwhm 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在10000-20000之间。
3如果用普通的xrd仪器如 brucker d8或者 philips 等测试粉末的 xrd，扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析，需要加内标吗？
扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的，如果要做结构精修，中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上，至于内标是不需要的。
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一个峰能表达一个物相强度吗？
上面说到，一般使用物相强峰的峰高或者面积来表示这个物相的衍射强度。但是，真的对这样表示吗？如果你的样品是粉末，那么你知道粉末样品是什么形状的吗？
假如是完状的，那么，无论你怎么制备样品，结果都是无任何择优取向的。因此，用一个峰的强度就可以表述一个物相的强度。---的是，没有几种粉末是真正球状的。更多的是其它形状。
比如，石墨往往是片状的，有些虽然不是片状的，但也是有棱有角的，xrd小角度检测价格，或者你可以将它们---为长方体，三角形等等。试想想，如果在样品的压片过程中，有人为的因素，比如抖动一下，结果会怎么样呢？粉末的排列是不是还会是完全无序的呢？肯定不是，它们总是会朝着“整齐”的姿态排列。这就是我们的不幸，因为粉末颗粒排列得越整齐，也就是它们越有序，越是我们所不期望的。
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