半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,半导体xrd检测分析,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
做钴酸锂 xrd 衍射实验时,在 x 衍射仪上做出的衍射图片,个衍射峰---高,其他的衍 射峰---低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位---指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验,还是多晶膜等?如果是粉末,那可能就是择优取向了。
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁,xrd 与标准 jcpds 相比衍射峰有规律向左偏移,重庆半导体xrd检测,这表达什么晶体结构的信息啊?
如果各峰的偏移基本上是一个固定值,半导体xrd检测多少钱,原因是 2θ零位不正确;样品平面后仰;组成偏离化学式,未知的偏离导致晶格变大了一些。
用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?
xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据(原理上应该用峰的面积数据), 余下的工作便是些乘除比例的运算了,使用表格软件(如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel)完成甚为方便。因此,使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析,当然,有jade 软件更为方便。
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椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种---吸引力的测量仪器。
目前,椭偏仪是测量透明、半透明薄膜厚度的主流方法,它采用偏振光源发射激光,当光在样本中发生反射时,会产生椭圆的偏振。椭偏仪通过测量反射得到的椭圆偏振,并结合已知的输入值计算出薄膜的厚度,是一种非破坏性、非接触的光学薄膜厚度测试技术。在晶圆加工中的注入、刻蚀和平坦化等一些需要实时测试的加工步骤内,椭偏仪可以直接被集成到工艺设备上,以此确定工艺中膜厚的加工终点。
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好有其它分析、测量得到的化学、物理信息要紧的是需要比较---的化学组成分析结果,用来计算出化学式;如有可能,好能测定出样品密度,以便用于计算晶胞内容。可以用专门的仪器测定密度。如果自己手头缺乏密度测定仪器,可以把粉末压片,用千分尺量出样品直径和厚度计算体积,用电子天平测出重量,得到实验测量的密度值(肯定比理论值小,因为有空隙),但比没有数据好多了。
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