单晶xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，单晶xrd检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
同系列对比检索。
如果同时做的样品---一个，而是一个系列。这个系列中的物相在变化。那么对比它们的图谱变化情况，就可能看出，哪些峰属于一个相，而另一组峰属于另一个相。再根据这些峰的位置来查找物相，也是一种检索的办法。
考虑实验条件。
有些时候实在分析不出来了，你可以考虑一下，你的样品是否有可能氧化、---、氯化等变数。往往就是这些原因，困住了你。把这些元素加入进去，也许一键敲定了。
天然还是人工合成。
一般来说，大自然形成的东西（天然矿物）的晶体结构比较简单，分子式不可能很复杂，人工合成则是另---事，好象越复杂的东西越体现了水平。因此，如果分析天然矿物，不要选那种10个字符以上的分子式作为结果。
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如果我想要从這个 powder diffraction profile 来解出其结晶结构，包括其各个晶格参数以及其是什么的晶型 tetragonalor orthorhombic 等等那我该如何是好呢？
如果你只想知道这个新物相的晶格参数和晶系，用你的粉末衍射数据去指标化就可以了。指标化就是确定每个衍射峰的衍射指标，当然这个过程同时就给出了晶系。
有没有一个程式是可以输入 a b c 三轴的值以及三轴之间的三个夾角然后就可以自动画出这样的晶型可能产生的 powder diffraction profile 呢？
有这样的程序可以输入晶格参数和空间群就可以理论计算出衍射峰的位置。可以用的软体 很多，chekcell这个免费的软体就可以解决您的问题。如果需要理论计算衍射强度，你还需要给出原子坐标参数。
原子各向同性（---）温度因子对结构影响大吗？
温度因子就是反映原子在平衡位置附近振动情况的一个因子，主要是对强度有影响，那当然就对结构有影响了。
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椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种---吸引力的测量仪器。
目前，椭偏仪是测量透明、半透明薄膜厚度的主流方法，它采用偏振光源发射激光，云南单晶xrd检测，当光在样本中发生反射时，会产生椭圆的偏振。椭偏仪通过测量反射得到的椭圆偏振，单晶xrd检测服务，并结合已知的输入值计算出薄膜的厚度，是一种非破坏性、非接触的光学薄膜厚度测试技术。在晶圆加工中的注入、刻蚀和平坦化等一些需要实时测试的加工步骤内，椭偏仪可以直接被集成到工艺设备上，以此确定工艺中膜厚的加工终点。
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