半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
首先,x射线衍射方法只能证明一个物相的存在,而不能证明一个物相的不存在。
这是因为,x射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值(1%-10%左右,不同物相不同)时,xrd方法是不能检定一个物相的存在的。因此,如果你还想问“我的样品中有0.3%的zr,为什么在om,tem或sem中可以看到它的存在,为什么用xrd做不出来呢?”这样的问题,说明你对xrd还不了解。
其次,并不是有了jade就能一定分析出是什么物相。
jade是一个pdf卡片的检索程序,通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但,这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相,因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候,jade就---为力了。这时,你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。
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当然,我们还得提一提结晶度的影响。一些结晶不好的物相,部分地存在非晶,当然会使衍射峰变宽变低。在一些粘土矿物中,这种现象表现得尤为明显。不知你注意了没有,半导体xrd检测平台,上面的文字中多次用到低而宽,高而窄这样的词。这就是说,一个峰如果变宽了,势必会使峰变低,以保持衍射峰的面积基本不变。从这一点来看,辽宁半导体xrd检测,如果各物相的衍射峰宽度不同,用面积来作为强度计算含量似乎要准确一些。
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在布鲁克的自带软件中有一个软件叫做topas,能做这方面的工作,但是,真正会用的人可能不是很多。在帕纳科的 xpert highscore里也有一个模块,可以做这个工作。理学电机的仪器使用美国的软件jade。为什么jade里没有这样的模块呢?其实是有的。你看过它的菜单opti里有一个灰色的命令叫做“easy quantitative”(快速定量)的东西吗?有的人安装上jade后,一看这个东西是灰色的,总以为自己的软件来路不正,半导体xrd检测价格,是不是少了什么。可以说,真的没少什么。因为本来就没有这个东西。我们在买jade 5时就期望这个东西在新版本中变成黑的。但是,买了jade 6以后,这个东西还是灰的。但是,也可以说真的是少了点东西。少了定量这一块。原因就是这一块需要单独购买。因为大家都不买,所有大家都没得用。我不知道为什么大家都不买。我想不是因为大家都象我一样穷,可能的原因是,半导体xrd检测测试,软件公司先有了菜单,后来想做这个程序,可能原先的想法相当于前面提到的半定量,帕纳科的软件里就有这个东西。但是,后来没有做了,因为技术进步了,形势改变了。现在干脆做成了一个很复杂的东西。这个东西也通过全谱拟合的方法来做定量分析。据说,这个东西的功能很---,但是,要钱买。我没钱,没有买,因此也不知道到底怎么样。据说国内有人买了。不知道用得如何。另外,通过一些非x射线衍射的软件也能做这些工作,很多前辈在期刊上发表过一些。大家可以参考。
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