xrd倒易空间(rsm)检测-半导体单晶xrd---

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    2023-3-20

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做钴酸锂 xrd 衍射实验时,在 x 衍射仪上做出的衍射图片,个衍射峰---高,xrd倒易空间(rsm)检测分析,其他的衍 射峰---低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位---指点。

不知你是用钴酸锂粉末做的实验,还是多晶膜等?如果是粉末,那可能就是择优取向了。

化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁,xrd 与标准 jcpds 相比衍射峰有规律向左偏移,这表达什么晶体结构的信息啊?

如果各峰的偏移基本上是一个固定值,原因是 2θ零位不正确;样品平面后仰;组成偏离化学式,未知的偏离导致晶格变大了一些。

 用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?

xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据(原理上应该用峰的面积数据), 余下的工作便是些乘除比例的运算了,使用表格软件(如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel)完成甚为方便。因此,使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析,当然,xrd倒易空间(rsm)检测,有jade 软件更为方便。






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四探针测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ito导电箔膜、导电橡胶方块电阻等的测量仪器。

测量半导体电阻率方法的测量方法主要根据掺杂水平的高低,半导体材料的电阻率可能---。有多种因素会使测量这些材料的电阻率的任务复杂化,包括与材料实现---接触的问题。特殊的探头设计用于测量半导体晶片和半导体棒的电阻率。这些探头通常由诸如钨的硬质金属制成,并接地到探头。在这种情况下,接触电阻---,必须使用四点共线探针或四线绝缘探针。两个探针提供恒定电流,另外两个探针测量整个样品一部分的电压降。通过使用所测电阻的几何尺寸来计算电阻率。< br />;< br />;著作权归作者所有。



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在布鲁克的自带软件中有一个软件叫做topas,能做这方面的工作,但是,真正会用的人可能不是很多。在帕纳科的 xpert highscore里也有一个模块,可以做这个工作。理学电机的仪器使用美国的软件jade。为什么jade里没有这样的模块呢?其实是有的。你看过它的菜单opti里有一个灰色的命令叫做“easy quantitative”(快速定量)的东西吗?有的人安装上jade后,一看这个东西是灰色的,总以为自己的软件来路不正,是不是少了什么。可以说,真的没少什么。因为本来就没有这个东西。我们在买jade 5时就期望这个东西在新版本中变成黑的。但是,买了jade 6以后,这个东西还是灰的。但是,也可以说真的是少了点东西。少了定量这一块。原因就是这一块需要单独购买。因为大家都不买,所有大家都没得用。我不知道为什么大家都不买。我想不是因为大家都象我一样穷,可能的原因是,软件公司先有了菜单,xrd倒易空间(rsm)检测费用多少,后来想做这个程序,可能原先的想法相当于前面提到的半定量,帕纳科的软件里就有这个东西。但是,后来没有做了,因为技术进步了,形势改变了。现在干脆做成了一个很复杂的东西。这个东西也通过全谱拟合的方法来做定量分析。据说,这个东西的功能很---,但是,要钱买。我没钱,没有买,因此也不知道到底怎么样。据说国内有人买了。不知道用得如何。另外,通过一些非x射线衍射的软件也能做这些工作,很多前辈在期刊上发表过一些。大家可以参考。

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