algan材料xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
四探针测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,algan材料xrd检测机构,以及扩散层、外延层、ito导电箔膜、导电橡胶方块电阻等的测量仪器。
测量半导体电阻率方法的测量方法主要根据掺杂水平的高低,半导体材料的电阻率可能---。有多种因素会使测量这些材料的电阻率的任务复杂化,包括与材料实现---接触的问题。特殊的探头设计用于测量半导体晶片和半导体棒的电阻率。这些探头通常由诸如钨的硬质金属制成,并接地到探头。在这种情况下,接触电阻---,必须使用四点共线探针或四线绝缘探针。两个探针提供恒定电流,另外两个探针测量整个样品一部分的电压降。通过使用所测电阻的几何尺寸来计算电阻率。< br />;< br />;著作权归作者所有。
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请问知道晶体的结构和晶格参数能模拟它的 x 衍射谱线吗?
xrd 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小,还是与晶体颗粒大小有关?
样品中晶粒越小,衍射峰的峰高强度越来越低,但是峰越来越宽,新疆维吾尔自治algan材料xrd检测,实际上利用 x 射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的(scherrer公式)。
晶粒大小和颗粒大小有关系,但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒,但是更可能的情况是晶粒抱到一起,二次---,成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位,algan材料xrd检测多少钱,但是微小的颗粒能产生散射。你磨的越细,散射就越强。对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。磨得太狠的话,有些峰可能要消失了,而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加,终会变成1 个或几个鼓包。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些,因d值大的晶面容易被破坏。
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---测角仪是怎么实现θ/2θ倍角转动的?
这种装置能够---严格的倍角同步吗?θ/2θ是两个同轴的园,θ是带动样品转动的园,algan材料xrd检测报告,而 2θ是探测器转动的园,这样设计的目 的是为了---样品在转动中的衍射焦点始终在探测器转动的大园上。现代的衍射仪用2 个步 进电机分别独立控制θ和 2θ园的转动,控制电路能够---两个园按 1:2 转速比转动,--- 两个园的转动严格倍角同步。磁性材料比如 ndfeb 或者 ndfen 的粉末,是不是会因为磁性的存在会产生择优取向?磁性材料肯定是具择优取向的,否则就没有磁性了,制样时应当磨成粉末,可以抑制这种取 向趋势。择优取向会使很多本来有的衍射峰出不来。
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