xrd倒易空间（rsm）检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
还有人想出另一个点子，通过“极密度”来计算原来强峰(因为存在择优取向变得不强了)应当有的强度。这个方法虽然说起来简单，但操作起来比较麻烦。实验时要采用较短波长的x射线，xrd倒易空间（rsm）检测哪里可以做，尽可能多地测量到物相的衍射线数。如果把计算方法编写成程序，就会变得简单一些。这不是一般科研---所要做的事情。甚至有些人连极密度是什么东西都不了解，怎么去做这个工作呢？(实在想知道，可以参考写有“织构”内容的x射线衍射教材)。办法总是人想出来的，你也可以参考相关的文献，想出自己的办法来。虽然，不管使用什么办法，都很难得到真正的结果，但总比不作任何处理要好一些。
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如何计算出来理论衍射图(给定晶格参数和实验参数后，如何计算得到 x 射线衍射图)?
先，模拟（就是你说的计算）是要基于许多理论模型的，因为粉末衍射图样的形成要 受很多因素的影响，峰的位置、形状，峰彼此之间的影响都可以用一些模型来描述，三两句---不清楚；
第二，有大量的现成的软件可以用；
第三，xrd倒易空间（rsm）检测实验室，如果你打算把粉末衍射的模拟作为你的研究课题，你应该多看一些文献和基本原理 的介绍。只要你有了晶胞参数、原子坐标，就可以用大量的现成的软件来计算出的x 射线粉末衍射图。
有单晶 x 射线衍射推算出来的晶胞参数，请问我怎么才能反推算出该晶体的粉晶衍射图？
需要原子坐标！如果你有结构数据，就可以从理论上算出粉末衍射图。例如，通过fullprof、 diamond软件工具即可以得到该晶体的粉末 xrd 图，也可以使用 materials studio 的 reflex plus 模块算出来，不用自己手工算了。
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xrd测试分析下面通过一些问答形式给讲解物相定量分析的重点知识。
1、为什么不能做物相定量？
样品往往不是单一物相，因此，人们总想了解其中某种相的含量。人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题，我们还是了解一下一张x射线衍射谱图中包含一些什么信息。这些信息主要有三个方面。也是三个方面的应用：
（1）衍射峰的位置
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
（2）衍射峰的峰高或者面积，我们称之为强度
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
（3）衍射峰的形状，我们称为线形
这方面的信息又包括两个方面。其一是衍射峰的宽度，我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。另一个则是线的形状，主要是指峰形是否对称，这方面用来计算位错、层错等。不过，后者做的人少，研究也不是很完全，因此应用不是很广泛。
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