半导体xrd检测报告-半导体研究所-福建半导体xrd检测_广州其他分类

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半导体xrd检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

如何在origin上标记xrd图上的星号

1、选中卡片，然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息，从中可以看到晶面间距d，晶面指数（hkl）以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export，可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。

2、从txt中找到标准谱图所需要的信息：2 theta和i(f)值，然后将其copy到origin里面，设置2theta 为x轴数据，i(f)为y轴数据，如图2所示

3、选中a(x1)和b(y1)做折线图，并对谱图进行优化（线粗细：3.0，类型：b-spline; 坐标轴线粗细：3.0，字体大小：28），得到zno的xrd谱图

4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y，添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content，将d(y2)添加为layer content

5、双击图层2中所出现的折线图，半导体xrd检测，在弹出的plot o details菜单中，半导体xrd检测测试，将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项，勾选vertical，同时将线宽调整为3；再---symbol选项，将size改为0

6、调整图层2的横坐标范围，使横轴范围与图层1一致；调整图层2的纵坐标范围，半导体xrd检测报告，让标准卡片处于适合的位置；美化谱图，然后在图中注明标准卡片的编号

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x射线衍射（xrd）是一种用于表征结晶材料的---的非破坏性技术。它提供有关晶体结构、相、优选晶体取向（纹理）和其他结构参数的信息，例如平均晶粒尺寸、结晶度、应变和晶体缺陷。此外，x 射线衍射峰是由从样品中每组晶格平面以特定角度衍射的单色 x 射线束的相长干涉产生的。峰强度由晶格内原子的分布决定。因此， x射线衍射图案是给定材料中周期性原子排列的指纹湖。

单晶xrd检测理想用途

一、晶相的鉴定/定量

测量散装材料和薄膜中的平均微晶尺寸、应变或微应变效应

量化薄膜、多层堆叠和制造部件中的优选取向（纹理）

确定散装材料和薄膜中结晶材料与非晶材料的比例

适用于各种散装和薄膜样品的相识别

检测微小晶相（浓度大于~1％）

确定多晶薄膜和材料的微晶尺寸

确定结晶形式的材料相对于无定形的百分比

测量亚毫克松散粉末或干燥溶液样品以进行相鉴定

分析薄至50?的薄膜的质构和相位行为

确定外延薄膜中的应变和成分

确定单晶材料的表面切口

后，测量大块金属和陶瓷中的残余应力

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矿石xrd物相分析矿石成分检测

矿石成分在线检测技术取消了人工取样、制样、化验等环节，实时对矿石进行分析并将结果发送至控制系统，具有矿石成分代表性强、实时---、减少取样人员、降低生产成本等特点，可以及时调整配矿方案，提高生产效率。目前矿石成分在线检测的主流技术有中子活化技术（prompt gamma-ray neutron activation ---ysis，简称pgnaa）和近红外光谱分析技术（near infra-red technology，简称nir）。

每种元素对中子活化过程的反应不尽相同，这表现在两个方面。一方面是一些元素的活化性比另一些元素要高，例如铁、硫和氯非常活跃；而碳和氧的惰性---。各元素间的另一个关键不同点在于每种元素会出（具有已知概率）的一组γ 射线能量。例如，氯元素会出能量不同的γ 射线，有名的是4.42 和6.42 mev。通过特定仪器来检测特征γ 射线的能量可辨别物料中元素的种类，通过检测特定能量γ 射线的数量可辨别该元素的百分含量。

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