半导体xrd检测平台-半导体xrd测试电话

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    2023-7-5

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实际应用

●实验准备

?样品做---的清洗

?去加工应力

?确定衍射晶面。扫描样品在2θ=100-140°范围内的谱图,确定衍射晶面(峰背比较高,峰较窄,谱线平滑、衍射角高)

●实验设备

?同倾法:常规衍射仪,θ和2θ可单独转动即可。

?侧倾法:多功能样品台,样品可做ψ侧倾,好可绕自身法线转动,则可测不同方向的应力。●扫描图谱

?选择ψ角为0°,15°,25°,35°,45°

?选择侧倾法扫描

?电压40kv,电流40ma,cu辐射,步进扫描,步长0.02°,计数时间4s




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如何看懂xrd图谱




xrd图谱峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。xrd图谱峰高如果是相对背地强度高,半导体xrd检测报告,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致。

xrd图谱峰高如果是a峰相对b峰高很多,半导体xrd检测价格,两峰的高度比“a/c”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多,那么这个材料是a方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质与温度关系的曲线。

即热重曲线(tg)曲线,青海半导体xrd检测,横坐标为温度或时间,纵坐标为,也可用失重百分数等其它形式表示。由于试样变化的实际过程不是在某一温度下同时发生并瞬间完成的,因此热重曲线的形状不呈直角台阶状,而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。



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拉曼光谱是一种散射光谱。拉曼光谱分析法是基于印度科学家c.v.raman在1928年所发现的拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息并应用于分子结构研究的一种分析方法。

拉曼光谱在材料科学中是物质结构研究的有力工具,半导体xrd检测平台,在相组成界面、晶界等课题中可以做很多工作。半导体材料研究中,拉曼光谱可测出经离子注入后的半导体损伤分布,可测出半磁半导体的组分,外延层的,外延层混品的组分载流子浓度。 


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