单晶xrd检测服务-天津单晶xrd检测-半导体薄膜测试机构

单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

指标化的过程是：对衍射谱寻峰或者拟合后，选择菜单命令“---pattern indexing”，出现指标化的对话框，然后，单击go工具，会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。

例如，al合金的高温衍射，原子受热影响，晶胞膨胀较大，使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大，无法直接精修，必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表，当选择某一行时，会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修，并能得到满意的结果。

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

sollar狭缝测角仪上一组平行薄金属片光阑，由一组平行等间距的、平面与射线源焦线垂直的金属薄片组成，单晶xrd检测服务，用来---x射线在测角仪轴向方向的发散，使x射线束可以近似的看作仅在扫描圆平面上发散的发散束。

脉冲计数率在衍射仪方法中，x射线的强度用脉冲计数率表示，单位为每秒脉冲数（cps）。检测器在单位时间输出的平均脉冲数，直接决定于检测器在单位时间接收的光子数。如果检测器的效率为100%，而系统（放大器和脉冲幅度分析器等）又没有计数损失（漏计），那么每秒脉冲数便是每秒光子数。

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