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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
微区衍射仪
微区衍射仪是按平行光束型衍射几何设计的,使用特殊的大窗口闪烁检测器或环形窗口的正比检测器。工作时,检测器沿入射线方向移动,通过固定直径的环形狭缝对各衍射锥面的总强度依次地进行测量。由于它使用细平行光束,故能对样品的一个微区(直径可小至30μm)进行衍射分析。
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粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何,一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量;衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件,用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器,xrd掠入射(gixrd)检测价格,它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
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通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时,一般采用低角度的衍射线。但是,如果晶块尺寸较大,可用较高衍射角的衍射线。
使用谢乐公式计算晶粒尺寸时,若晶粒尺寸在30nm左右,计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是:衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。
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