天津xrd薄膜检测-半导体xrd测试电话_广州其他分类

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无i---检索就是对图谱不作任何处理、不规定检索卡片库、也不作元素限定、检索对象选择为主相（s/m focus on major phases）。

这种方法一般可检测出样品中的主要的物相。在对样品无任何已知信息的情况下可试着检索出样品中的主要物相，进而通过检索出来的主要物相了解样品中元素的组成。另外，在考虑样品受到污染、反应不完全的情况可试探样品中是否存在未知的元素。但是，这种方法不可能检索出全部物相，并且检索结果可能与实际存在的物相偏差较大，需要其它实验作进一步证实。

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xrd图谱中某个衍射峰的峰高、峰宽和峰面积分别表示什么

首先要区别是什么物质的xrd图谱，比如单晶、多晶（粉末）等.

峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒. 而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定.

另外，天津xrd薄膜检测，如果样品不为纯晶体，而同时存在非晶体的情况下，不同xrd图像同一位置角度对应的峰高不同则反映了晶体成分的多少. 晶体化程度越高，相应的峰越高.

峰宽：一般分析多的数值是fwhm(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用x射线的波长分布，即使是单色x射线也不完全只有确定波长；从多晶样品角度说，fwhm和晶粒大小成反比，即，晶粒直径越小对应的fwhm越大，具体计算可以参考scherrer equation.

峰面积：也称为integral intensity. 这个值同样不是由某单一值决定，和样品本身相关的量有：该峰对应晶面的数量，xrd薄膜检测哪里可以做，晶胞体积，晶粒体积，structure factor等.

以上只是粗略说明，具体情况还是需要具体分析.

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

位敏正比检测器衍射仪位敏正比检测器（pspc）是一种新型射线检测器。它不仅能进行粒子计数测量，xrd薄膜检测费用多少，而且通过与它配合的一套时间分析系统能够同时得到粒子进入检测器窗口的位置坐标。因此用pspc进行测量可以获得如用感光软片进行记录时同样丰富的信息。pspc得到的信息直接实时地由计算机系统进行处理，能立即得到实验结果。应用pspc已经成功地发展了一种新型的衍射仪——pspc衍射仪，它能对整个可测量范围内的衍射进行同时记录，是一种高速多晶衍射设备，---适用于---动态过程的衍射研究。

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