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常见问题
q1、粉末样品量过少会有什么样的影响?
答:因为粉末样品要铺满整个样品台,样品量过少可能导致x射线打在样品台上,从而影响数据。
q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?
答:样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关,结晶度越好,衍射峰越明显,其次才是样品量和仪器功率。
q3、步长和扫描速度有何关联?扫描速度对样品的测量有何影响?
答:步长决定了扫描的精细程度,扫描速度是由步长和每步的时间决定的,每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长,步长越小,则谱越精细,信噪比越高,可用于定量计算,如xrd精修等。
q4、xrd定量的度如何?
答:xrd为半定量分析,定量测试结果度有限,仅供参考。
q5、为何有些样品的测试结果基线较高?能否---?
答:有荧光散射现象的样品,如铁含量较高的样品,测试结果会出现基线较高的情况,这是无法---的。
q6、cu靶的波长是多少?
答:kα1=1.540538埃。
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应力测量要注意的问题
●常规的x射线应力测试,只是对无粗晶和无织构的材料才有效,否则会给测试工作带来一定难度。
●对于非理想组织结构的材料,必须采用特殊的方法或手段来进行测试,但某些问题迄今未获得较为---的解决。
●如果晶粒粗大,各晶面族对应的德拜环则不连续,当探测器横扫过各个衍射环时,所测得衍射强度或大或小,衍射峰强度波动很大,依据这些衍射峰测得的应力值是不准确的。
●为使德拜环连续,获得满意的衍射峰形,必须增加参与衍射的晶粒数目。
●为此,对粗晶材料一般采用回摆法进行应力测量。目前的大多数衍射仪或应力仪,都具备回摆法的功能。
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原位xrd相对于非原位xrd的技术优势
原位xrd在材料反应过程中得到实时的结构变化信息,可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应,对如何改进材料也具有很大的指导意义;非原位xrd的测试往往不能---的还原真实的状况,另外,如果所测试的材料状态对空气敏感,那么,必须将材料放在隔绝空气的装置中测试才能反应材料的真实状态。
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