algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，algan材料xrd检测，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式（扫描方式）。试样每转动一步（固定的δθ）就停下来，测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式：定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步，再进行强度测量。如此一步步进行下去，完成角度范围内衍射图的扫描。
用记录仪记录衍射图时，采用步进扫描方式的优点是不受计数率表rc的影响，没有滞后及rc的平滑效应，分辨率不受rc影响；尤其它在衍射线强度极弱或背底---时---有用，在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时，可以在每个θ角处作较长时间的计数测量，以得到较大的每步总计数，从而可减小计数统计起伏的影响。
步进扫描一般耗费时间较多，因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素：一是所用接收狭缝宽度，步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度；二是所测衍射线线形的尖锐程度，步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此，步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是，也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间，若长一些，可减小计数统计误差，提高准确度与灵敏度，北京algan材料xrd检测，但将损失工作效率。
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指标化的过程是：对衍射谱寻峰或者拟合后，algan材料xrd检测服务，选择菜单命令“---pattern indexing”，出现指标化的对话框，然后，algan材料xrd检测报告，单击go工具，会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。
例如，al合金的高温衍射，原子受热影响，晶胞膨胀较大，使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大，无法直接精修，必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表，当选择某一行时，会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修，并能得到满意的结果。
总之，jade的功能非常---，界面友好，容易上手。但在使用过程中要注意方法和技巧，才能得到满意的分析结果。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何，一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量；衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件，用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器，它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
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