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原位xrd的测试可以在短时间内得到大量可对比信息,由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试,因此得到的信息(无论是晶胞参数还是峰强度,还是其他的参数)都是具有相对可比性的。
而非原位xrd得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高,比如,极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态,材料测试的会产生高低变化,测到的xrd的峰会发生偏移,大功率xrd检测报告,相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化;而不同极片活性材料和分布必然存在不同,这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何,一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量;衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件,用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器,它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
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