单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
不能精修的原因与解决办法
选择精修命令后,有时会出现“unable to graft hkl’s to peaks”的提示。表明不能进行精修。其原因有两种:一是有些拟合的峰没有对应的(hkl)标记。例如,测量铁素体的5条线,但检索pdf卡片只有前3条线,3条衍射线不能进行精修。二是衍射峰位相对于“选定结构 (标准卡片)”的峰位偏离太多。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
相干散射
物质对x射线散射的实质是物质中的电子与光子的相互作用。当入射光子碰撞电子后,若电子能牢固地保持在原来位置上(原子对电子的束缚力很强),单晶xrd检测分析,则光子将产生刚性碰撞,其作用效果是辐射出电磁波——散射波。这种散射波的波长和频率与入射波完全相同,单晶xrd检测平台,新的散射波之间将可以发生相互干涉——相干散射。x射线的衍射现象正是基于相干散射之上的。
x射线管
衍射用的x射线管实际上都属于热电子二极管,有密封式和转靶式两种。前者大功率不超过2.5kw,单晶xrd检测报告,视靶材料的不同而异;后者是为获得高强度的x射线而设计的,一般功率在10kw以上。
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xrd分析与xrf分析的异同
1,用途不同。xrd是x射线衍射光谱,(x-ray diffraction ---ysis)是用于测定晶体的结构的,而xrf是x射线荧光发射谱,(x-ray fluorescence ---ysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般测定原子序数小于na的元素,定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。
2,原理上的差别:xrd是以x射线的相干散射为基础,以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的;
xrf则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=k(z-s),k,s是与线性有关的常数。因此,得出不同元素具有不同的x射线(即特征线)为基础对元素定性、定量分析的。
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