大功率xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
假如我使用几种强度的表示方法来计算含量呢?
通过x射线衍射分析软件的“寻峰”功能。我们能得到衍射峰的峰高和峰面积,你不妨试试分别通过峰高和峰面积来计算物相的含量,然后再作个平均,台湾大功率xrd检测,也许会比单纯地使用峰高或峰面积来计算结果一些。你会做峰形拟合吗?
x射线衍射峰的线形总是一种“钟罩”形函数,或者说可以使用一种钟罩形函数来拟合。你可以选择不同的峰形函数来做峰的拟合,看看哪个的误差小,说明衍射峰能使用这种函数来拟合。拟合完成后,拟合函数的高度、宽度和面积就会列表出来。
这时,你又得到一组强度数据,大功率xrd检测测试,分别用高度和面积计算物相含量,会得到怎样的结果呢?当然也可以加入到前面的两种结果中,作一个4个结果的平均。这只是我的建议,并非一定要这么做。当衍射峰没有重叠,没有宽化,没有变形时,4种结果没有多少差别。只有当存在这些因素时,才会出现差别。如果峰形重叠,使用拟合能将重叠峰分离开来,以消除其它物相附加的强度,单纯的寻峰是不能做到这一点的。但是,拟合时要---注意背景线的取舍,拟合得不好可能会产生很大的误差。拟合峰数据用来计算一些粘土矿物的含量时,显得尤为有意义。因为这些物相的峰形往往不对称,矮而宽,底部拖得---宽,而且多有重叠。单纯的寻峰数据使物相含量的计算结果偏小。不过,用拟合数据计算出来的又往往偏高。两者中和一下,也许与真实的结果差不离了。
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影响k值的因素有什么?
除了定义上的因素外,还有这么一些问题是要考虑的:
首先,晶粒大小的影响。比如,你在做的是纳米晶粒样品,也套用这个k值,误差会很大。我曾试过一个物相不同晶粒的k值,结果相差有多大,---无法相象,真的差了10倍!这个10倍是要直接用于公式里的分母的。结果会怎么样呢?
其次,化学成份的影响。很多物相都不能算做纯物相,比如某种合金的固溶体,大功率xrd检测多少钱,某种蒙脱石。虽然,他们的晶体结构大体上还是没有变化,但它的k值却变了。据分析,不同成分的固溶体,比如al中可以溶解一些其它元素如zn,mg等,大功率xrd检测报告,不同固溶度下的al固溶体的k值肯定是不同的。对于合成样品,化学成分的微小差别也会影响k值。不同地域的蒙脱石,其k值可以相差很大。
再次,颗粒度。这里不是说晶粒度,而是说粉末的粒度。也是影响因素之一。
影响k值的还有晶体的结构,原子的占位与掺杂。
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fullprof精修中的 scale 的初值一般是怎么确定的?
比例因子 scale 是指理论计算数据与实验数据之间的比值,一般---给就可以,不会影响精 修的。只要你的初始模型正确,几轮就可以修到比较合理的值。
做rietveld 时发现:如果事先对原始数据进行平滑等一系列的预处理会比较容易使r 因子 减小,这样的做法是否---?
做 rietveld 时,是不需要对数据进行平滑处理的,因为平滑处理肯定会使数据在一定程度上失真的。不过,在不影响峰形的前提下进行轻度的平滑处理也是可以的。
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