锂电xrd检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
如何在origin上标记xrd图上的星号
1、选中卡片,然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息,从中可以看到晶面间距d,晶面指数(hkl)以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export,可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。
2、从txt中找到标准谱图所需要的信息:2 theta和i(f)值,然后将其copy到origin里面,设置2theta 为x轴数据,i(f)为y轴数据,如图2所示
3、选中a(x1)和b(y1)做折线图,并对谱图进行优化(线粗细:3.0,类型:b-spline; 坐标轴线粗细:3.0,字体大小:28),得到zno的xrd谱图
4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y,添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content, 将d(y2)添加为layer content
5、双击图层2中所出现的折线图,在弹出的plot o details菜单中,将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项,勾选vertical,同时将线宽调整为3;再---symbol选项,将size改为0
6、调整图层2的横坐标范围,使横轴范围与图层1一致;调整图层2的纵坐标范围,锂电xrd检测分析,让标准卡片处于适合的位置;美化谱图,然后在图中注明标准卡片的编号
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xrd与eds有什么区别
sem,eds,xrd的区别,sem是扫描电镜,eds是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪,是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。xrd是x射线衍射仪,是用于物相分析的检测设备。
sem用于观察标本的表面结构,其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样 品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象,反映了标本的表面结构。
eds的原理是各种元素具有自己的x射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△e,能谱仪就是利用不同元素x射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。
xrd是利用衍射原理,测定物质的晶体结构,辽宁锂电xrd检测,织构及应力,的进行物相分析,定性分析,定量分析。
说简单点,sem是用来看微观形貌的,观察表面的形态、断口、微裂纹等等;eds则是检测元素及其分布,但是h元素不能检测;xrd观察的是组织结构,锂电xrd检测,可以测各个相的比例、晶体结构等。
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xrd即x-raydiffraction的缩写,x射线衍射,通过对材料进行x射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。x射 线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,锂电xrd检测平台,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、*体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的x射线中,包含与靶 中各种元素对应的具有特定波长的x射线,称为特征(或标识)x射线。
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