甘肃xrd小角度检测-xrd小角度检测多少钱-半导体研究所

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红外光谱仪是利用物质对不同波长的红外辐射的吸收特性，进行分子结构和化学组成分析的仪器。红外光谱仪通常由光源，单色器，探测器和计算机处理信息系统组成。根据分光装置的不同，分为色散型和干涉型。对色散型双光路光学零位平衡红外分光光度计而言，当样品吸收了一定频率的红外辐射后，分子的振动能级发生跃迁，透过的光束中相应频率的光被减弱，造成参比光路与样品光路相应辐射的强度差，从而得到所测样品的红外光谱。

红外光谱法操作简单，不破坏样品，使其在半导体分析的应用日趋广泛。半导体材料的红外光谱揭示了晶格吸收、杂质吸收和自由载流子吸收的情况，直接反映了半导体的许多性质，如确定红外透过率和结晶缺陷，监控外延工艺气体组分分布，测载流子浓度，甘肃xrd小角度检测，测半导体薄层厚度和衬底表面。

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xrd衍射谱图上的衍射峰对应的晶面该怎么看

xrd 衍射峰一般用角度值表示，该值和微观上晶体的晶面间距是对应的，一个晶面间距对应一个特定的角度。当测试多晶，陶瓷时，因为存在晶格异常，偏大或偏小，会使衍射峰变宽。材料结晶越好，峰越窄，反之越宽。

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