xrd摇摆曲线检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,xrd摇摆曲线检测服务,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
不同x射线残余应力测定方法的原理与应用
(1) sin2ψ法可以采用选取较大的ψ范围和较多的ψ站数进行残余应力测定,从而提高测试精度。cosα法采用单次---,ψ范围不够---造成较大的测量误差,xrd摇摆曲线检测哪里可以做,具有局限性,有待于进一步完善。
(2)在基于sin2ψ法原理的测量方法中,与同倾法相比,侧倾法具有明显的性。在被测点所处空间条件允许的前提下,应尽量采用侧倾法。对于某些零件的沟槽部位的残余应力测定,通常采用同倾法。
(3) 在残余应力的计算方法中,可真应变法。
(4) sin2ψ法作为一种标准的方法,ψ角的设置好采用sin2ψ值等分法,尽量多选择几个ψ角进行测量。
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aoi的中文全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。aoi是新兴起的一种新型测试技术,河北xrd摇摆曲线检测,但发展迅速,很多厂家都推出了aoi测试设备。当自动检测时,xrd摇摆曲线检测机构,机器通过---头自动扫描pcb,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出pcb上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。
运用高速---视觉处理技术自动检测pcb板上各种不同贴装错误及焊接缺陷。pcb板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在线检测方案,以提高生产效率,及焊接。通过使用aoi作为减少缺陷的工具,在装配工艺过程的早期查找和消除错误,以实现---的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段,aoi将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。
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x射线衍射技术(xrd)在建筑材料检测中的应用
样品要求x射线衍射技术适用于多种类型产品的检测,送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。样品种类不同,具体要求也有所区别:
粉末样品需要量约为2g以上(视其密度和衍射能力而定),送检粉末样品需预先干燥并研磨至大于200目;
块状和薄膜样品要求宽度不小于1.5cm、厚度不大于0.5cm近似平面试样;
对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,消除表面应变层;
若样品在空气中不稳定,会吸湿、风化、分解,则需采取保护隔离措施,若试样、、有毒,则应采取相应的防护措施。
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