---行政xrd薄膜检测-半导体xrd测试电话

xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

应力测量要注意的问题

●材料中织构，主要影响应力测试2θ与sin2ψ的线---，影响机制有两种观点：一种观点认为，2θ与sin2ψ的非线性，是由于在形成织构过程中的不均匀塑性变形所致；另一观点则认为，这种非线性与材料中各向---有关，不同方位即ψ角的同族晶---有不同的应力常数k值，从而影响到2θ与sin2ψ 的线---。

●由于理论认识上的局限，使得织构材料x射线应力测试技术一直未获得重大突破。

●目前没有先决条件并具有一定实用意义的方法是，测试高指数的衍射晶面。

●选择高指数晶面，xrd薄膜检测实验室，增加了所采集晶粒群的晶粒数目，从而增加了平均化的作用，削弱了择优取向的影响。

●这种方法的缺点是，对于钢材必须采用波长很短的mo-kα线，而且要滤去多余的荧光辐射，所获得的衍射峰强度不---。

●采用单晶应力测试技术，---行政xrd薄膜检测，也是解决织构应力测定的有效方法。

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不同晶粒度的同一物相，rir值相差很大

rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒，也按正常的rir值进行分数计算，则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说，晶粒越小，衍射峰高越低，则实际rir值越小，有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久，rir值会越小。

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