大功率xrd检测测试-半导体xrd薄膜测试

大功率xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

一般来说，在强度表示中，重庆大功率xrd检测，有3个主要的问题：

(1) 通过寻峰操作得到的峰高和面积数据有时---确，但是，若衍射谱中存在重叠峰则会使计算值偏高。

(2) 拟合面积较为准确，可解决重叠峰的问题，但拟合峰高一般有偏差。

(3) 当物相的晶粒度不同时，大功率xrd检测价格，用峰高还是用面积来表示强度并不等价，它们受衍射峰宽度的影响。

实际操作中，通常分别使用4种强度数据进行计算，再将计算结果作平均，可得到较为理想的结果。但是，如果重叠峰---多时，大功率xrd检测测试，可只选用拟合数据，而当样品中无重叠时，使用寻峰数据计算反而会。

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通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线。但是，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线。

使用谢乐公式计算晶粒尺寸时，若晶粒尺寸在30nm左右，计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是：衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。

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