xrd晶粒尺寸检测-半导体xrd检测机构_广州其他分类

广东省科学院半导体研究所提供xrd晶粒尺寸检测-半导体xrd检测机构。

xrd晶粒尺寸检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

实验条件

●限定照射面积

?通过狭缝、准直管来---入射光束或通过遮挡的方法来---照射面积

●测点位置设定

?对于一个实际试样，应根据应力分析的要求，结合试样的加工工艺、几何形状、工作状态等综合考虑，内蒙古自治xrd晶粒尺寸检测，确定测点的分布和待测应力的方向。

?校准试样位置和方向的原则为:

(a)测点位置应落在测角仪的回转中心上；

(b)待测应力方向应处于平面以内；

(c)测角仪ψ=0°位置的入射光与衍射光之中线应与待测点表面垂直。

●在常规x射线衍射分析中，选择正确的测试参数，目的是获得完整且光滑的衍射谱线。

●x射线应力测试，除满---上要求外，还必须考虑诸如角设置、辐射波长、衍射晶面以及应力常数等因素的影响。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd晶粒尺寸检测

如何看懂xrd图谱

xrd图谱峰的面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。峰窄说明晶粒大，可以用谢乐公式算晶粒尺寸。xrd图谱峰高如果是相对背地强度高，表示晶相含量高，跟面积表示晶相含量一致。

xrd图谱峰高如果是a峰相对b峰高很多，两峰的高度比“a/c”相对标准粉末衍射图对应峰的高度比要大很多，那么这个材料是a方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质与温度关系的曲线。

即热重曲线(tg）曲线，横坐标为温度或时间，纵坐标为，也可用失重百分数等其它形式表示。由于试样变化的实际过程不是在某一温度下同时发生并瞬间完成的，因此热重曲线的形状不呈直角台阶状，而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd晶粒尺寸检测

xrd晶粒尺寸检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，xrd晶粒尺寸检测分析，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

如何在origin上标记xrd图上的星号

1、选中卡片，然后双击-->;弹出的文本框即为标准卡片信息，从中可以看到晶面间距d，xrd晶粒尺寸检测哪里可以做，晶面指数（hkl）以及标准衍射峰位2 theta等信息-->;选中export，可以将标准卡片中的信息导出为txt文件。

2、从txt中找到标准谱图所需要的信息：2 theta和i(f)值，然后将其copy到origin里面，xrd晶粒尺寸检测，设置2theta 为x轴数据，i(f)为y轴数据，如图2所示

3、选中a(x1)和b(y1)做折线图，并对谱图进行优化（线粗细：3.0，类型：b-spline; 坐标轴线粗细：3.0，字体大小：28），得到zno的xrd谱图

4、---菜单栏中graph-->;new layer(axe) -->;(linked) top x + right y，添加新图层。然后右键---“图层2”-->; layer content，将d(y2)添加为layer content

5、双击图层2中所出现的折线图，在弹出的plot o details菜单中，将plot type改为 scatter; ---右侧菜单中drop lines选项，勾选vertical，同时将线宽调整为3；再---symbol选项，将size改为0

6、调整图层2的横坐标范围，使横轴范围与图层1一致；调整图层2的纵坐标范围，让标准卡片处于适合的位置；美化谱图，然后在图中注明标准卡片的编号

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~xrd晶粒尺寸检测

xrd晶粒尺寸检测-半导体xrd检测机构由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供---的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。半导体研究所——您可---的朋友，公司地址：广州市天河区长兴路363号，联系人：王小。
     联系我们时请一定说明是在100招商网上看到的此信息，谢谢！
     本文链接：https://tztz343535a2.zhaoshang100.com/zhaoshang/277105753.html
     关键词：