algan材料xrd检测服务-半导体研究所

algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，江苏algan材料xrd检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。在样品测试形态上，一般为干燥的粉末，块体或者薄膜结构。

技术特点

常规测试中，xrd更多地被用于对材料进行物相定性分析，而对于物相结构的定量分析而言，xrd一般只能检测样品含量在1%以上的物相，准确度一般为1%的数量级。

需要注意的是，xrd不能通过直接测量衍射峰的面积来求物相的含量。因为对于xrd图谱而言，其测定的衍射强度是经过试样吸收之后表现出来的，这意味着衍射强度还与吸收系数有关，而吸收系数又依赖于物相浓度。所以要测某个物相的含量，首先必须明确衍射强度、物相含量和吸收系数之间的关系。

常规定量分析方法有：外标法、内标法、k值法、直接对比法、绝热法等。目前，做物相定量分析可以利用reitveld结构精修的办法进行数学处理得出各物相的具体含量。一般不用xrd来分析体相元素含量，通常是用它来分析不同结构的含量。与其他技术相比，xrd可以用来区分具有相同元素但不同物相的物质，如锐钛矿tio2和金红石tio2。

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xrd图谱中某个衍射峰的峰高、峰宽和峰面积分别表示什么

首先要区别是什么物质的xrd图谱，比如单晶、多晶（粉末）等.

峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒. 而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定.

另外，algan材料xrd检测机构，如果样品不为纯晶体，而同时存在非晶体的情况下，不同xrd图像同一位置角度对应的 峰高不同则反映了晶体成分的多少. 晶体化程度越高，相应的峰越高.

峰宽：一般分析多的数值是fwhm(半峰全宽). 峰宽受很多因素影响：从仪器角度说，因素为所用x射线的波长分布，algan材料xrd检测多少钱，即使是单色x射线也不完全只有确定波长； 从多晶样品角度说，fwhm和晶粒大小成反比，即，晶粒直径越小对应的fwhm越大， 具体计算可以参考scherrer equation.

峰面积：也称为integral intensity. 这个值同样不是由某单一值决定，和样品本身相关的量有：该峰对应晶面的数量，晶胞体积，晶粒体积，structure factor等.

以上只是粗略说明，具体情况还是需要具体分析.