algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，algan材料xrd检测实验室，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
首先，我们必须强调的是xrd做含量分析非常不准，如果非要说检出限是多少主要是由什么决定的，那就是由仪器的功率和管电流决定的，如果要表征元素的含量---化学方法测或者原子吸收来做。
另外，xrd的检测限是不能简单的用％来表示的，这和被检测物质的分散度有很大关系，也就是结晶度，与物质种类也有很大关系，样品的吸收系数大，检出限会高很多。如果非要确定出一个检出限，一般说是5%左右。但是，不同的物相，对x射线的吸收不同，则检出限会有较大出入。如单质硅，一般在1%左右可以检出，而另一些相，可能10%都难于检出。当然。在样品相同的情况下，使用较高的衍射功率，使用较长的扫描时间效果会---。不过，福建algan材料xrd检测，如果要延长扫描时间，如果延长一两倍是见不到效果的。
经验表明，如果使用常规的扫描速度能看到某种存在的迹象，那么，再采用1度/min或更慢的速度来扫描。如果使用常规扫描速度---都看不到痕迹，就没有---再费力了。进行半定量分析确实是很不准确，而且结果确实与晶粒大小相关。晶粒小的析出相，连检出都困难，更别说做定量分析了。晶粒小的物相会使其rir值增大，曾做过ceo2的rir值，在不同的温度下的产物，其rir值相差10倍。
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用origin计算残余应力
?分别测量φ=0，15，25，algan材料xrd检测报告，35，45°的衍射谱；
?用jade5打开各个衍射谱，做拟合，得到峰位(也可以将衍射图数据转换成txt文本文件，再用origin绘制图谱做拟合，求峰位);
?用excel建立sin2 ψ-2θ表；●用origin作sin2 ψ-2θ图并作直线拟合，得到斜率m；●查找材料的弹性模量和泊松比，计算弹性常数k；
●按σ=km计算应力。
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指标化的过程是：对衍射谱寻峰或者拟合后，选择菜单命令“---pattern indexing”，algan材料xrd检测服务，出现指标化的对话框，然后，单击go工具，会出现一个“待选结构”列表。后从列表中选择出一种正确的结构。
例如，al合金的高温衍射，原子受热影响，晶胞膨胀较大，使实测峰与pdf卡片衍射线位置相差较大，无法直接精修，必须先做指数标定。指数标定后会显示一个可能的指标化结果的列表，当选择某一行时，会在主窗口显示该组指标对应的峰。注意观察选定的结构与实测谱是否一致。选择正确的指标化结果后就可进行结构精修，并能得到满意的结果。
总之，jade的功能非常---，界面友好，容易上手。但在使用过程中要注意方法和技巧，才能得到满意的分析结果。
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福建algan材料xrd检测-半导体薄膜测试机构由广东省科学院半导体研究所提供。“结构性能测试,光电性能测试,性能形貌测试”选择广东省科学院半导体研究所，公司位于：广州市天河区长兴路363号，多年来，半导体研究所坚持为客户提供好的服务，联系人：王小。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。半导体研究所期待成为您的长期合作伙伴！
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