单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。在样品测试形态上,一般为干燥的粉末,单晶xrd检测实验室,块体或者薄膜结构。
技术特点
常规测试中,单晶xrd检测哪里可以做,xrd更多地被用于对材料进行物相定性分析,而对于物相结构的定量分析而言,xrd一般只能检测样品含量在1%以上的物相,准确度一般为1%的数量级。
需要注意的是,xrd不能通过直接测量衍射峰的面积来求物相的含量。因为对于xrd图谱而言,其测定的衍射强度是经过试样吸收之后表现出来的,这意味着衍射强度还与吸收系数有关,而吸收系数又依赖于物相浓度。所以要测某个物相的含量,首先必须明确衍射强度、物相含量和吸收系数之间的关系。
常规定量分析方法有:外标法、内标法、k值法、直接对比法、绝热法等。目前,做物相定量分析可以利用reitveld结构精修的办法进行数学处理得出各物相的具体含量。一般不用xrd来分析体相元素含量,通常是用它来分析不同结构的含量。与其他技术相比,xrd可以用来区分具有相同元素但不同物相的物质,如锐钛矿tio2和金红石tio2。
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锂离子电池由于其优异的储能特性,在移动通信、信息技术、消费电子和移动汽车等领域有着广泛的应用。为了开发新型高i性能碳阳极材料,xianfa rao等人[1]以聚为原料,在1050℃的高温进行下热解和碳化,单晶xrd检测分析,制备了一种新型有机碳材料聚丙i烯腈(pan)硬质碳。首先将材料在温度条件为280℃于空气气氛下进行2小时的预氧化,而后将与氧化后的粉末于氮气气氛下以600-1050℃的温度区间进行碳化。在该温度下连续碳化30分钟,然后自然冷却至室温,将获得4pan硬质碳基材的将其材料进行xrd测试分析。
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rir的取值问题
rir即当物相含量与标准物相含量相等时,两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增,因此,多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是,在实际操作中存在一些问题:
同一物相有多张pdf卡片与之对应,而且rir值不同
例如,mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应,它们的结构相同,但是,江苏单晶xrd检测,rir值略有不同,如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说,虽然有多张pdf卡片与被测相相对应,但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别,因此,应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片,---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。
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