半导体xrd薄膜测试-大功率xrd检测哪里可以做_广州其他分类

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大功率xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

rir的取值问题

rir即当物相含量与标准物相含量相等时，海南大功率xrd检测，两相的强度之比。由于pdf卡片数量逐年递增，因此，多数物相都可以通过pdf查到rir值。但是，在实际操作中存在一些问题：

同一物相有多张pdf卡片与之对应，而且rir值不同

例如，大功率xrd检测机构，mgzn2这种物相就有多张卡片与之对应，它们的结构相同，但是，rir值略有不同，如何正确地选择合适的rir值是定量计算的关键问题。一般来说，大功率xrd检测分析，虽然有多张pdf卡片与被测相相对应，但实际上在衍射峰位置和衍射强度匹配上存在较小的差别，因此，应当选择与实测物相较为吻合的pdf卡片，---是选择衍射强度匹配尽可能一致的卡片数据。

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

粉末衍射仪

粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何，一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量；衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。

测角仪

是粉末衍射仪上精密的机械部件，用来测量衍射角。

发散狭缝

测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。

接收狭缝

测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器，它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。

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单峰搜索法是jade很有特色的一种检索方法。当多数主要物相被检索出来，但还存在某几个衍射峰未归属时，这种方法---有效。其方法是：选择“计算峰面积(peak paint)”按钮，选定一个角度范围进行检索。

这种方法的特点是：

(1) 检索出来的物相是在角度范围内有衍射峰的物相；

(2) 可同时选择几个相似的衍射峰；

(3) 加上其它限定条件，可以检索出样品中全部物相。

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