xrd薄膜检测测试-青海xrd薄膜检测-半导体xrd测试机构

xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射（如各狭缝光阑边缘的散射，xrd薄膜检测测试，光路上其它金属附件的散射）进入检测器，有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝，xrd薄膜检测分析，它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当，可以得到低的背底，而衍射线强度的降低不超过2％。如果衍射线强度损失太多，则应改较宽的防散射狭缝。

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解决的办法通常有3种：

(1) 换一张卡片试试

所谓结构精修，即以的某种物相结构为“初始值”进行反复地迭代修正，逐步逼近测量峰的位置。当所选卡片的峰位与测量峰位偏离太多时，因为“初始值”离真实值太远了，无法精修下去。如换张卡片，也就是改变初始值，则更容易精修。因为，青海xrd薄膜检测，换卡片只是改变初始值，所以并不影响精修的结果。

(2) 选择all sible reflecti

如果样品为单相，则可以不进行物相检索，在寻峰或拟合后直接选用全部衍射峰进行精修。另外，有时虽然unable to graft hkl‘s to peaks，但还是出现了精修的界面，选择all sible reflecti进行精修是可行的。

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