单晶xrd检测报告-湖南单晶xrd检测-半导体xrd研究所

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    2023-8-8

王小姐
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单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

不同晶粒度的同一物相,rir值相差很大

rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒,也按正常的rir值进行分数计算,单晶xrd检测测试,则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说,晶粒越小,衍射峰高越低,则实际rir值越小,有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久,rir值会越小。

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x射线衍射技术是材料科学中常用的实验手段之一,其应用范围极广,单晶xrd检测服务,可用于材料表征、结构分析等领域。掠入射x射线衍射(gi-xrd)技术是x射线衍射技术的一种,它与传统的xrd实验不同,主要是改变了x射线入射的角度和样品的朝向。掠入射xrd技术具有许多的优势,能够在材料表征和结构分析中发挥重要的作用。






















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在jade的检索窗口中,对于检索的重点有4种不同的选择:search focus on major、minor、trace、zoom window、painted。分别表示检索时主要着眼于主要相、次要相、微量相、按全谱检索或按选定的某个峰来检索。在实际的检索中,可能用得多的是个和后一个。即首先检索出样品中的主要物相,然后再选择某一个未归属的峰进行检索。

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