xrd晶粒尺寸检测平台-半导体研究所-浙江xrd晶粒尺寸检测

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备，所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。

即xc=pic;xa=qia

则:xc=ic(ic+kia)x100%

注意：ic为晶体部分的衍射积分强度，ia为非晶部分的衍射积分强度。k=q/p，是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子

由上式已知，若温度k也已知，则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言，k是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出k值，从而得出试样的结晶度。

相对结晶度

如果将k值取1则xc=ic/(ic+ia)，即为相对结晶度。

这个统计方法虽然不准确，xrd晶粒尺寸检测多少钱，但对试样也存在择优取向，且同晶相合非晶相的化学成分也相同，可认为，该法有比较意义。其实，得到结晶性相当麻烦，所以相对结晶度反而是比较常用的办法。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ

注意:λ为x guang线的长度，n则为的正整数，xrd晶粒尺寸检测实验室，即衍射级数

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd晶粒尺寸检测~

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

电子衍射和 xrd的区别

电子衍射是二维衍射和 xrd 是一维衍射，电子衍射和xrd的基本原理和衍射花样的几何特征相似，xrd晶粒尺寸检测平台，而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。两者区别包括：

(1) 电子波的波长短，则受物质散射强（原子对电子的散射能比 x 射线强一万倍）；

(2) 电子衍射强度大，要考虑它们之间的相互作用，浙江xrd晶粒尺寸检测，使电子衍射花样分析，---是强度分析变得复杂，不能像 x射线一样从测量强度来广泛地测定晶体结构；

(3) 由于电子衍射强度高导---子穿透能力有限，因此较使用于研究微晶、表面和薄膜晶体；

(4) 当晶粒大小只有几微米，甚至几千埃的时候，不建议用 xrd 。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd晶粒尺寸检测~