福建xrd物相分析检测-半导体xrd薄膜测试

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aoi的中文全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。aoi是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，xrd物相分析检测多少钱，很多厂家都推出了aoi测试设备。当自动检测时，机器通过---头自动扫描pcb，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出pcb上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。

运用高速---视觉处理技术自动检测pcb板上各种不同贴装错误及焊接缺陷。pcb板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在线检测方案，福建xrd物相分析检测，以提高生产效率，及焊接。通过使用aoi作为减少缺陷的工具，在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现---的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段，aoi将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。

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正如上面提到的，我们利用x射线衍射可以获得大量的关于薄膜的信息。在平常的测试中，我们获得的粉末衍射信号来自于平行于宏观平面的晶面信息。当我们测试薄膜时，必须要注意晶面的取向情况，这时候需要调整x射线在样品的入射和反射的方向。

在通常的测试中一般是对称反射光路测试，但在有---取向的薄膜例如外延生长的薄膜时候，对称衍射并不合适。这时候我们就需要调整样品表面的倾斜来获得需要测试的晶面，我们称为非对称衍射。

有一种更为特殊的情况，当我们的晶面垂直于样品宏观平面生长时，也叫面内衍射，这些年随着测试技术的发展和仪器的精度越来越高，我们也可以实现对垂直于平面晶面进行表征。面内表征对于薄膜宽度方向的探究是非常重要的。